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首先,我们介绍一下电路维护测试仪对集成IC进行功能测试的流程:基于集成IC器件库,施加测试信号测试集成IC的各个输入引脚,提取集成IC输出信号,并与理论值进行比较。由于很多故障都是由接口电路引起的,因此先测试接口有时可以很快地发现故障。电容参数测试范围:可覆盖103~47000F(扫描点数:1024点/周期,扫描周期:48.4~3020ms);
模拟器件测试库包含数千种器件;可对放大器、比较器、二极管、晶体管、晶闸管、场效应管、光耦器件、AD、DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试; vi曲线测试一般适用于超出器件库范围的芯片、晶体管、电阻等。 UK abi-4400 矩阵开关还可用作多路复用器或多路解复用器,使其成为满足中低容量自动化测试需求的经济替代方案。
最后告诉大家一个使用测试仪的技巧,那就是VI曲线功能。这个功能非常实用。当测试仪的芯片库没有数据而无法测试芯片时,我们可以使用VI曲线进行对比测试((如果有好的板子进行比较),如果没有好板子,那么我们可以找到共地,然后表征芯片引脚或组件并进行性能测试。
如果集成IC型号经过打磨或标识不清,只要该集成IC在器件库中存在且功能齐全,输入集成IC引脚数,将周期测试信号与理论值进行比较,则该集成IC的器件型号可以识别集成IC。通过比对来确定故障点,比对过程如下:首先在正常工作的PCB板上测试两个节点,得到电压(V)——电流(I)关系曲线,并将测试结果保存为Criteria以供将来比较运营。
市场上VI曲线测试仪的价格从2000元到10000元不等。同时,大多不方便携带。有一些产品可以携带,但功能单一(例如不能保存曲线、比较曲线等),那么LOTO示波器和VI曲线工控板完美解决了这些问题。价格极低(共500元),随身携带,可保存曲线、记录回放、鼠标测量等先分离后集成—— 先测试分立元件,再测试集成芯片,因为分立元件的故障率较高。
先修接口再修元件——时,最好对PCB板上的每个接口引脚进行VI曲线测试。由于这种测试方法的过程是在线路的两个节点之间注入一定范围和频率的周期信号,从而在显示坐标上形成电流随电压变化的函数曲线,因此称为vi曲线。测试前先用万用表检查板上元件的工作电源是否短路。如果是的话,首先应该将其消除。当PCB板需要维修时,应询问故障现象,并仔细观察板上是否有烧毁、保险丝熔断、插件松动、连线断开等明显故障。
当同类型PCB板出现故障时,可用在线测试仪对故障板的任意两个节点进行VI测试,同时调出正常PCB板对应两个节点之间的VI曲线进行比较。如果比较结果超出正常范围,则故障点之一应该在这两个节点之间。
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